對于中低光澤產(chǎn)品,塑料薄膜和硬質(zhì)塑料,不論透明還是不 微型光澤儀45°:特別應(yīng)用在陶瓷、塑料和薄膜的光澤測量透明材質(zhì),通常都用45°角來測量。對于透光的薄膜,請用型號為5015的黑色耐擦洗實驗板作為啞光黑色背景墊于樣品背后。如果沒有合適的背景板,測量會發(fā)生錯誤。
標(biāo)準(zhǔn)的測量方法要求每個樣品至少測量三個點,以獲取光澤均質(zhì)性指征。微型光澤儀統(tǒng)計測量模式,可顯示平均值和差值范圍或者顯示測量樣品的均質(zhì)性的標(biāo)準(zhǔn)偏差值。
為了評估光澤的變化有必要多次測量整個樣品表面并取平均值,確保得到有代表性的結(jié)果。陶瓷、搪瓷和其他材料使用45°光澤儀,通過測量失光率可以對比這些材料的耐酸性,耐堿性或者其他環(huán)境因素的影響。
標(biāo)準(zhǔn)
ASTM |
C346, D2457 |
JIS |
Z8741 |
技術(shù)指標(biāo)
角度 |
應(yīng)用 |
測量范圍 |
45° |
陶瓷、塑料、薄膜 |
0 - 180 GU |
技術(shù)參數(shù)
型號 |
名稱 |
角度 |
應(yīng)用 |
測量面積 |
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4567 |
新微型光澤儀45° |
45° |
陶瓷,塑料,薄膜 |
9x13mm |
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基本配置:主機,校準(zhǔn)底座,可追溯的證書,USB線纜,電池,操作手冊 |
測量范圍1 |
0-100GU |
100-2000GU |
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重復(fù)性2 |
±0.2GU |
±0.2% |
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重現(xiàn)性2 |
±0.5GU |
±0.5% |
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光譜敏感度 |
CIE standard observer for illuminant CIE-C |
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測量時間 |
0.5秒/每一角度 |
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厚度 |
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基體 |
Fe:磁性,NFe:非磁性 |
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測量范圍 |
0-500μm |
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精度 |
±(1.5μm+2%測量值) |
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內(nèi)存 |
999個讀數(shù)包括日期和時間 |
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接口 |
USB |
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電源 |
一節(jié)1.5v堿性5號電池可測4,000次或使用USB端口 |
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尺寸 |
155x73x48mm |
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重量 |
0.4kg |
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操作溫度 |
15-40℃ |
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相對濕度 |
高達(dá)85%,不結(jié)露 |
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45°和70°光澤儀見前頁 |